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浅谈TD-SCDMA智能天线基本原理和测试方法

作者:时间:2017-02-27来源:网络收藏


电路参数包括:各端口输入阻抗、相邻天线单元端口隔离度、各天线端口有源反射系数、校准口到各天线单元的幅度相位一致性。

辐射参数测试包括:各天线单元的方向图和增益、典型业务波束的方向图和增益;广播波束的方向图和增益。

由于电路参数指标为智能天线出厂必测指标,下面我们重点探讨一下智能天线的电路参数测试项目和测试方法。一个8单元单极化智能天线阵的电路参数测试包括:

(1)相邻端口的隔离度,即S12、S23、S34、S45、…S78的特性(不包括校准口);

(2)校准口到各天线单元的幅相一致性,即S01、S02、…、S07、S08的幅度相位特性(Mag|S01|、|Mag|S02|、Mag|S03|、Mag|S04|、Mag|S05|、Mag|S06|、Mag|S07|、Mag|S08|;Pha|S01|、Pha|S02|、Pha|S03|、Pha|S04|、Pha|S05|、Pha|S06|、Pha|S07|、Pha|S08|);

(3)各天线端口的无源反射系数(或无源回波损耗),即S00、S11、S22、…、S33、S88的特性;

(4)各天线端口的有源反射系数(或有源回波损耗),考虑单元之间的互耦和各单元的幅相激励问题。

根据下面的S参数激励矩阵模型

(2.1)

可以推出各端口的有源反射系数为

(2.2)

进行波束扫描的时候,对源进行相位加权。测试的典型值给出一组:

(2.3)

一般的天线测试可以使用2端口矢量网络分析仪。而智能天线有8个天线端口和一个校准端口,且其测试项目和测试复杂度比普通天线要高很多,因此一般的2端口或4端口矢网很难满足其测试要求。但是为了确保智能天线的性能,上面提到的测试项往往是天线研发和生产时必测的项目,因此我们需要寻求一种快速、全面的测量解决方案。

 罗德与施瓦茨(R&S)的ZVT是业界唯一的8端口矢量网络分析仪。它内置4个独立的源,16个独立接收通道,有着极快的测量速度,因此是针对智能天线和相控阵天线测试的最佳选择(见图5)。它可以一次完成一个S88全矩阵测试,这对2端口和4端口矢网是不可能实现的。



图5用R&S的8端口矢网ZVT测试智能天线

(2.4)

针对第1、2项测试,R&SZVT可一次性完成。

针对第3项测试(共需要9个端口),R&SZVT只需要两步就可完成(如图6和图7所示),同时结合TraceMath(轨迹计算,对多个轨迹进行任意的计算,以扩展测量功能)功能,可以实时的计算并显示各通道幅度/相位一致性(如图8所示)。



图6R&SZVT针对智能天线幅度相位一致性的测试(第1步)



图7R&SZVT针对智能天线幅度相位一致性的测试(第2步)



图8典型的幅度一致性测试结果(校准口到各天线端口)

针对第4项测试,借助结合R&SZVT的强大的TraceMath功能,可以将公式(2.3)中的θ编入ZVT的公式编辑器中,结合R&SZVT测量的全矩阵(2.4),可以实时地显示各端口的有源反射系数,典型的测量结果如图9,图10所示:


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