LED照明产品寿命测试评价方法研究进展

摘要： 本文在调研LED 照明产品国际和国家标准有关寿命评价考虑的基础上，介绍了目前针对LED 寿命测试的相关研究工作，对LED 照明产品的寿命评估方法做了探索性研究。经分析可知，采用寿命测试推算方法，IESTM21 和边界函数法均存在一定的问题。研究表明，采用试验条件加速的方法来测试推算LED 照明产品的寿命存在较高的可行性，且此评价方法可显着缩短产品的寿命评价周期。

1 引言

发光二极管( Light Emitting Diode,LED) 作为一种光电子器件，本身具有长寿命的优势。随着蓝光LED 芯片的发明和LED 照明技术的提高，LED 逐步进入普通照明领域，其技术水平也在近年呈现出快速的发展趋势。LED 照明产品包括LED 光源和LED 灯具。针对普通照明领域，受LED 照明产品价格因素的影响，综合考虑市场应用的性价比和成本收回效果，LED 照明产品的寿命及其评估方法在全行业内引起了广泛的关注，也成为近来讨论和研究的热点。

LED 照明产品的寿命及其评估方法研究主要基于三个方面的考虑： ( 1) 产品的寿命评估方法研究及实施，将完善LED 照明产品的性能评价体系，缩短产品全面性能评价的测试周期，促进产品技术水平的提升; ( 2) LED 照明产品全面性能评价的实施，将对政府的相关决策和引导提供强有力的保障，从政府引导的角度，推动LED 照明行业的发展; ( 3) 这项工作将进一步增强市场的规范发展，从消费者认知和应用选择的角度，对LED 照明行业的健康发展提供保障。

目前国际领域内对LED 的寿命评估也愈加关注，本文在分析国际领域内LED 寿命评估方法的基础上，对LED 照明产品寿命评价方法与实验环境条件间的对应关系做了初步研究。

2 LED 照明产品寿命及相关研究现状

2. 1 LED 照明产品的寿命

根据照明术语国家标准的规定， ( 灯的) 寿命是指灯工作到失效时，或根据标准规定认为其已失效时的总时间。根据这一术语规定，照明产品的寿命取决于产品的失效方式的相关规定和判断。基于此，包括国际照明标准、美国照明技术规范、中国相关的国家标准和技术规范等均对LED 照明产品的寿命及相对应的失效判定做了相关的考虑和说明。

国际电工委员会( International ElectrotechnicalCommission,IEC) 正在展开针对原IEC /TS 62504LED Terms and Definitions 技术文件的修订换版工作，修订后标准将对LED 照明相关各项IEC 标准所涉及术语定义做协调统一，因此，改版后的IEC62504 标准将与原TS 版文件有较大不同。IEC62504 标准将从LED 照明产品光通维持率的角度给出产品的寿命定义。根据这一寿命定义，LED 照明产品的寿命由产品随燃点时间的延长其光通维持率的变化所决定，产品的光通维持率衰减到指定值时( 根据应用场所不同，通常设定为70%或50%) 的累积燃点时间即为产品的寿命。

产品的出光及光的维持性是LED 照明产品寿命指标的重要关注因素。此外，从LED 照明产品特性和应用场所的考虑出发，产品的寿命评价指标也存在一定差异，比如，除光通维持率之外，LED 照明产品的色品质及其维持性等，本课题组也在开展此方面研究工作，以期对LED 照明产品性能和寿命做更合理评估。表1 也给出了相关国家或地区在LED 照明产品寿命相关指标上的考虑。

针对LED 照明产品寿命相关指标的考虑，表1中标准或技术文件分别从产品的光通维持率LM、颜色坐标漂移、寿命时间规定和失效率等参数上做了考虑。以上各项标准或技术文件中关于LED 照明产品的光通维持率、颜色漂移等参数均以kh ( 千小时) 为单位进行指标规定，目前尚无经验证的切实可操作的加速测试或评价方法。我国所启动LED 照明产品节能认证，在产品光通维持率等测试项目上也存在类似问题。

2. 2 LED 寿命测试推算方法概要

2. 2. 1 美国IES TM21标准关于LED 光通维持率的推算方法

美国于2011 年发布了IES TM21 《ProjectingLong Term Lumen Maintenance of LED Light Sources》

标准，应用于LED 封装、LED 阵列、外接驱动控制的LED 模块。该标准规定了一种利用IES LM80 测试数据，以指数衰减为光通量衰减模型推算LED 光源光通维持率的方法，如图1 所示。

具体操作方式如下。

① 以不超过1000h 为时间间隔测试光通量，测试时间不低于6000h;

② 以0h 光通量为基准，计算各时间点的光通维持率;

③ 以指数衰减模型φ ( t) = β·exp ( – αt) 拟合光通维持率趋势曲线，若测试总时间不超过10000h,取最后5000h 数据点为拟合曲线原始数据;若测试总时间超过10000h,则取总测试时间的后50%测试点为拟合曲线原始数据;

④ 根据曲线拟合结果计算α 和β 值，在此基础上根据L70 = ln ( β /0. 7 ) /α 计算光源的L70寿命( 若推算所得寿命时间大于总测试时间的5. 5 倍( 或6 倍) ,则取总测试时间的5. 5 倍( 或6 倍) 为推算寿命时间)

2. 2. 2 基于边界函数的LED 寿命推算方法

基于IES TM21 关于LED 寿命推算方法在IEC标准技术讨论会上的讨论，有专家提出了TM21 在LED 普适性上的疑问，并提出了基于边界函数的LED 寿命推算方法。该方法将LED 封装的光通维持率测试曲线与指数衰减边界函数对比，将适用的边界函数所对应的寿命时间定义为该LED 封装的寿命，如图2 所示。

具体操作方式如下。

① 以0h,500h,1000h,2000h,3000h,……为时间间隔测试LED 封装的光通量，测试总时间应不低于6000h;

② 以0h 光通量为基准，计算各时间点的光通维持率并绘制光通维持率曲线;

③ 在以上光通维持率曲线图上，绘制B ( t) =e – αt 指数衰减边界函数曲线，曲线中参数按照B ( L70) =0. 7 计算得出;