新闻中心

EEPW首页 > 测试测量 > 设计应用 > 中规模集成电路功能测试仪的设计

中规模集成电路功能测试仪的设计

作者:时间:2011-04-01来源:网络收藏

1.4 SG3524的测试
  SG3524内部方框图如图5所示。输入直流电源UIN从15脚进入后分2路:一路作为放大器、比较器、振荡器以及逻辑电路和控制电路的电源;另一路作为基准电压源,产生+5 V基准电压输出到16引脚,作为外部电压基准。在振荡器部分的引脚7和引脚6上外接定时电容CT和定时电阻RT,得到所需的振荡频率。SG3524测试原理图如图6所示,连接成一个典型的降压型开关电源电路,利用误差放大器构成电压负反馈。通过改变取样比例系数就可以改变输出电压,单片机通过测取引脚3上的脉冲频率,通过MAX197测取输出端的电压,即可判断SG3524芯片的好坏。测试中暂时没有考虑过流保护功能的测试。

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/195011.htm


2 操作和软件结构
  测试仪的基本工作流程是:接通电源后,电源指示灯亮,表明电源工作正常,显示器显示等待测试信息,表明可以开始测试操作。由按键1选择所要测试的芯片,显示光标停留的芯片型号表示是当前待测芯片。每按1次选择键,光标指向下一个型号,不断地按键可以循环选择。当光标移到所要测试的芯片时,按下确定键2,接下来由单片机控制,开始自动测试该芯片,此时对应该芯片的指示灯亮;然后由外部电路或单片机给待测芯片一定的拟或数字输入量,经过每个芯片的测试电路后,通过MAX197进行处理(或直接送到单片机),与单片机中预存的标准值进行比较。如果测试值在标准值附近的一定范围内,则芯片正常,测试指示灯常亮,液晶显示器显示OK;否则,芯片出错,测试指示灯闪烁,液晶显示器显示BAD。此芯片测试完毕,按下复位键3,即回到初始状态,可以进行下一轮测试。软件流程图如图7所示。


  实验样机经老师、学生使用,测试效果非常理想,测试准确率可达90%以上,给教学提供了方便。


上一页 1 2 下一页

评论


相关推荐

技术专区

关闭