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测量射频器件噪声系数的三种方法

作者:时间:2012-05-13来源:网络收藏

测试仪,如Agilent公司的N8?73A分析仪,产生28V DC脉冲信号驱动噪声源(HP346A/B),该噪声源产生噪声驱动待测器件(DUT)。使用分析仪待测器件的输出。由于分析仪已知噪声源的输入噪声和信噪比,DUT的噪声系数可以在内部计算和在屏幕上显示。对于某些应用(混频器和接收机),可能需要本振(LO)信号,如图1所示。当然,之前必须在噪声系数测试仪中设置某些参数,如频率范围、应用(放大器/混频器)等。

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/193889.htm

  使用噪声系数测试仪是噪声系数的最直接。在大多数情况下也是最准确地。工程师可在特定的频率范围内测量噪声系数,分析仪能够同时显示增益和噪声系数帮助测量。分析仪具有频率限制。例如,AgilentN8?73A可工作频率为10MHz至3GHz。当测量很高的噪声系数时,例如噪声系数超过10dB,测量结果非常不准确。这种需要非常昂贵的设备。

  增益法

  前面提到,除了直接使用噪声系数测试仪外还可以采用其他测量噪声系数。这些方法需要更多测量和计算,但是在某种条件下,这些方法更加方便和准确。其中一个常用的方法叫做“增益法”,它是基于前面给出的噪声因数的定义:

  

  在这个定义中,噪声由两个因素产生。一个是到达射频系统输入的干扰,与需要的有用信号不同。第二个是由于射频系统载波的随机扰动(LNA,混频器和接收机等)。第二种情况是布朗运动的结果,应用于任何电子器件中的热平衡,器件的可利用的噪声功率为:

  PNA=kTΔF

  这里的k等于波尔兹曼常量(1.38*10-23焦耳/ΔK),T为温度,单位为开尔文,ΔF=噪声带宽(Hz)。在室温(290ΔK)时,噪声功率谱密度PNAD-174dBm/Hz.因而我们有以下的公式:

  NF=PNOUT-(-174dBm/Hz+20*log10(BW)+Gain)

  在公式中,PPNOUT是已测的总共输出噪声功率,-174dBm/Hz是290°K时环境噪声的功率谱密度。BW 是感兴趣的频率带宽。Gain是系统的增益。NF是DUT的噪声系数。公式中的每个变量均为对数。为简化公式,我们可以直接测量输出噪声功率谱密度 (dBm/Hz),这时公式变为:

  NF=PNOUTD+174dBm/Hz-Gain

  为了使用增益法测量噪声系数,DUT的增益需要预先确定的。DUT的输入需要端接特性阻抗(射频应用为50Ω,视频/电缆应用为75Ω)。输出噪声功率谱密度可使用频谱分析仪测量。

  增益法测量的装置见图2。

  

  图2。

  作为一个例子,我们测量MAX2700噪声系数的。在指定的LNA增益设置和VPAGC下测量得到的增益为80dB。接着,如上图装置仪器,射频输入用50Ω负载端接。在频谱仪上读出输出噪声功率谱密度为-90dBm/Hz。为获得稳定和准确的噪声密度读数,选择最优的解析带宽(RBW)与视频带宽(VBW)为RBW/VBW=0.3。计算得到的NF为:

  -90dBm/Hz+174dBm/Hz-80dB=4.0dB

  只要频谱分析仪允许,增益法可适用于任何频率范围内。最大的限制来自于频谱分析仪的噪声基底。在公式中可以看到,当噪声系数较低(小于10dB)时,(PNOUTD-Gain) 接近于-170dBm/Hz,通常LNA的增益约为20dB。这样我们需要测量-150dBm/Hz的噪声功率谱密度,这个值低于大多数频谱仪的噪声基底。在我们的例子中,系统增益非常高,因而大多数频谱仪均可准确测量噪声系数。类似地,如果DUT的噪声系数非常高(比如高于30dB),这个方法也非常准确。

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