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基于FPGA的等位移多点采样硬币识别研究

作者:时间:2009-08-24来源:网络收藏

由此可计算出硬币通过币道时的加速度a。设光电传感器A距离币道底部的垂直距离为h;光电传感器A检测点扫过硬币的长度为l。图5为硬币的半径r和h,l的关系图。由图5可得如下公式:

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/191954.htm

硬币的直径为d=2r,由式(1)~式(6)可得:

式中:h和s是已知的;ta,tb,tc可通过检测得到。
由此公式,就可通过测量硬币通过的时间ta,tb,tc并计算得到硬币的直径d。
2.4 等距离
见图3,D,E点位置设在检测线圈的边缘,CD间的距离为s。当硬币前沿通过D点时,开始;当硬币后沿通过E点时,停止。为了充分地采集硬币在各个位置的参数信息,采样点应足够多。在本设计中,沿硬币滚动的方向每间隔0.1 mm采样一次。
检测线圈和检测电路组成振荡器,振荡频率既不能太高,也不能太低。在本设计中,振荡频率为200 kHz(此频率指硬币未通过线圈时的振荡频率)。经实际测试,硬币通过检测线圈时的速度范围为0.1~0.5 m/s。可见,硬币通过币道时的速度有较大的变化范围,同一硬币多次投币时,通过检测线圈同一点(比如:A点)的速度也有区别。为了实现每次投币采样时,检测线圈和硬币的相对位置都一样,就必须采取等采样。当硬币的前沿通过D点时开始采样,以硬币前沿通过D点的时刻作为采样时间的零起始时刻,每过0.1 mm采样一次。首先,需要计算出通过每一个0.1 mm所需要的时间t1,t2,t3,…。由于速度越来越快,必定有t1,>t2>t3>…,再每隔t1,t2,t3,…时间检测采样一次。图6为采样过程示意图,tS为采样时间。



关键词: FPGA 位移 多点 采样

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