新闻中心

EEPW首页 > EDA/PCB > 设计应用 > 基于FPGA的等位移多点采样硬币识别研究

基于FPGA的等位移多点采样硬币识别研究

作者:时间:2009-08-24来源:网络收藏

2.1 系统原理
图2为系统原理框图。在币道的不同位置安装有几个光电传感器,通过基于的脉冲宽度测量,可检测得到硬币通过币道中光电传感器之问距离的间隔时间。通过的高速数据处理,可得到硬币的直径、硬币通过币道时的加速度,并得到硬币进行等时刻。当硬币通过检测线圈时,就进行基于 的多倍周期同步测频。再由FPGA对数据进行高速处理,得到硬币的特征参数,再把该特征参数和E2PROM中的硬币特征值进行比较,就可以判别硬币的币值和真伪。

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/191954.htm

2.2 基于FPGA的间隔时间测量
图3为基于FPGA的间隔时间测量原理示意图,A,B,C三点为光电检测点。当硬币通过光电检测点时,光电检测电路的输出由低电平跳变为高电平。图4为硬币通过币道时A,B,C三个光电传感器的输出波形。

图4中,ta为硬币前沿通过A点到硬币后沿经过A点的间隔时间;tb为硬币前沿通过A点到硬币前沿通过B点的间隔时间;tc为硬币前沿通过B点到硬币前沿通过C点的间隔时间。


光电传感器的输出接到FPGA,由FPGA对标准频率信号进行计数,不难测得硬币通过币道时的间隔时间ta,tb,tc。在本设计中,FPGA的时钟频率为100 MHz,即标准频率信号为100 MHz。经过实际检测,ta,tb,tc的最小时间为0.01 s,则可估算出最大测量误差为:


可见有足够高的精确度。
2.3 硬币直径检测
通过光电传感器实现硬币直径及通过币道的加速度的检测。如图3,在币道的A点、B点和C点分别安装光电收发器。AB点和BC点的距离相等且为s。
硬币通过币道时做匀加速度运动,设加速度为a,下面通过由FPGA高速检测得到的ta,tb,tc以及光电传感器之间的距离s来求加速度a,并求出硬币的直径d。
设硬币的前沿通过A点,B点,C点的速度分别为vA,vB,vc,则有:



关键词: FPGA 位移 多点 采样

评论


相关推荐

技术专区

关闭