基于FPGA的高性能DAC芯片测试与研究
Sin 信号测试：输入正弦波频率25 kHz，AD 采样率为100 MHz/s，输出数字信号经过Matlab 分析计算后，测得SNR是58 dB,SINAD 是57.75 dB,SFDR 是62.84 dB,THD 是58.62 dB,ENOB 是9.3 位。时域波形和FFT 变换后14 阶谐波的频谱如图4 和图5 所示。
图4 sin 信号输出时域波形
图5 sin 信号输出频域波形
4 结语
以12 位、250 Ms/s DAC 芯片为例，在FPGA 的基础上使用回路测试法，测试了其静态特性参数和动态特性参数。实验结果表明，可以有效地测试DAC 芯片的静态特性参数和动态特性参数。同时可以测试不同分辨率和采样速度的DAC 芯片，测试结果比普通模拟测试仪器的精度高，测试系统比专用DAC 自动测试设备成本低。
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