如何在DS26303 LIU中启用ITU-T G.703 2048kHz同步
下述内容为启用ITU-T G.703 2048kHz同步接口(T12)所需的寄存器的详细信息，以及对每一位的描述。
寄存器名称：ADDP
寄存器组：存在于所有寄存器组
寄存器描述：地址指针
寄存器地址：1Fh
| Bit # | 7 | 6 | 5 | 4 | 3 | 2 | 1 | 0 |
| Name | ADDP7 | ADDP6 | ADDP5 | ADDP4 | ADDP3 | ADDP2 | ADDP1 | ADDP0 |
| Default | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
第7至0位：地址指针(ADDP)。 用于选择、切换主寄存器组、副寄存器组、独立LIU寄存器组、BERT寄存器组和任何测试寄存器组的指针。譬如，软件必须将ADDP寄存器设置为0x00，以访问主寄存器组;设置为0xAA，以访问副寄存器组;设置为0x01，以访问独立的LIU寄存器组;或设置为0x02，以访问BERT寄存器组。请参考表2，了解如何选择适当的寄存器组。
表2. 地址指针寄存器组的选择
| ADDP Register Value | Register Bank Name |
| 0x00 | Primary |
| 0xAA | Secondary |
| 0x01 | Individual LIU |
| 0x02 | BERT |
| 0x03 | Global Test |
| 0x04 | LIU1 Test |
| 0x05 | LIU2 Test |
| 0x06 | LIU3 Test |
| 0x07 | LIU4 Test |
| 0x08 | LIU5 Test |
| 0x09 | LIU6 Test |
| 0x0A | LIU7 Test |
| 0x0B | LIU8 Test |
寄存器名称：G703EN
寄存器组：独立LIU寄存器组
寄存器描述：ITU-T G.703 2048kHz同步接口启用
寄存器地址：08h
第7至0位：G703启用(G703EN)。 当该位清0，关联的LIU通道的发射器和接收器处于正常的T1/E1/J1模式。该位置1时，关联的LIU通道的发射器和接收器处于ITU-T G.703 2048kHz同步接口(T12)模式。
注：该功能仅适用于A2及更高版本器件。
寄存器名称：TXCMDA
寄存器组：LIU测试寄存器组1至8
寄存器描述：发射线路驱动器自定义模式A
寄存器地址：05h
| Bit # | 7 | 6 | 5 | 4 | 3 | 2 | 1 | 0 |
| Name | Reserved | Reserved | SCDCOR | SCC4 | SCC3 | SCC2 | SCC1 | SCC0 |
| Default | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
第7至6位：保留，这些位应保持清0。
第5位：短路检测电流控制(SCDCOR)。该位清0，则启用默认的线路驱动器电流门限；置1时，则由默认的线路驱动器电流门限取代，该值由SCC[4:0]设置。
第4至0位：短路电流(SCC[4:0])。如果短路检测电流控制(SCDCOR)位置1，则这五位的二进制加权值设置为短路检测电流门限。如果线路驱动器电流超过该值，则禁用发射器，驱动器故障监控状态置1。
注：该功能仅适用于A2及更高版本器件。
寄存器名称：TXDIG
寄存器组：全局测试寄存器组
寄存器描述：发射数字测试模式
寄存器地址：07h
| Bit # | 7 | 6 | 5 | 4 | 3 | 2 | 1 | 0 |
| Name | Reserved | Reserved | Reserved | CLKS | Reserved | Reserved | Reserved | Reserved |
| Default | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
第7至5位：保留。该位应保持重置为0。
第5位：时钟选择模式(CLKS)。该位清0时，如果LIU通道处于下述模式，则每个LIU通道的发射时钟源为主时钟：发射全1、自动发射全1、ITU-T G.703 2048kHz同步接口(T12)和工厂测试。置1时，如果LIU通道处于上述任何一种模式，则每个LIU通道的发射时钟源为关联的TCLK引脚(或者，如启用远程环回，则为恢复时钟)。
第3至0位：保留。这些位应保持清0。
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