ADμC812的数据采集子系统及其系统编程技术

ADμC812在单个芯片内集成了8路12位ADC采集系统、2路12位DAC、80C52MCU内核、8KB的闪速/电可擦除程序存储器、640字节的闪速/电可擦除数据存储器、看门狗定时器、640字节的闪速/电可擦除数据存储器、看门狗定时器、电源监视器、I2C兼容的SPI和标准的UART串行I/O模块及灵活的电源管理方案等等，真正实现了单片机应用系统的单片机。限于篇幅，本文只介绍其ADC采集子系统及其在系统编程技术。

　　一、ADμC812的ADC采集子系统

　　1.硬件组成结构

　　ADμC812的ADC采集子系统部分由模拟多路转换器、温度传感器、采样保持电路(T/H)、12位逐次逼近比较的ADC、+2.5V基准源和ADC校正、控制逻辑组成，其组成如图1所示。

　　ADμC812的模拟输入端的电压有效输入范围与基准源有关。当采用内部基准源时，其有效输入范围为0～+2.5V;当采用外部基准源时，外部基准源应从Vref端引入，其合适的范围为+2.3～+5V，相应的模拟输入端的电压范围为0V～Vref。无论如何不应使其输入电平为负或超过绝对最大允许值AVDD+0.3V。当信号输入为双极性时，必须加入电平位移网络，使其变为单极性信号输入，如图2所示。

　　ADμC812可工作在-40～+85℃的工业级范围，有3V和5V两种供电工作方式，以便进一步降低功耗。ADC模拟包含了5μs、8通道、12位、单电源A/D转换器。其中，A/D转换器由基于电容DAC的常规则逐次逼近转换器组成，可保证的±1LSB的差分非线性和±1/2LSB和积分非线性。在上电时由工厂编程的校准系数自动下载到ADC，以确保最佳的ADC性能。该校准系数包括内部失调和增益校准两个方面，用户可根据需要重写工厂编程的校准系数，以便使用户目标系统中端点误差的影响最小。来自片内温度传感器的电压输出正比于热力学温度，它可通过多路转换器的第9个ADC通道输入，这方便了温度测量的实现。

　　2.软件控制特性

　　可编程性是应用系统发展的必然趋势。为适应不同信号源的实际需求，ADμC812片内ADC模块内的所有部件都能方便地通过3个SFR寄存器来设置。

　　(1)ADCCON1——控制转换和采集时间

　　(2)ADCCON2——控制ADC通道选择和转换模式

　　(3)ADCCON3——ADC状态指示