多PVC的G.SHDSL接口卡测试方法研究

3.2.3 性能测试用例

这里主要考虑两项重要的性能指标的测试：吞吐量和时延。用到的测试工具即上面所提到的SmartBits测试仪。设计用例如下：(1)吞吐量：G.SHDSL接口卡上下行速率对称，可以同时测试。包括1、2、4口接口卡的分别测试，对PVC值的选取可以遵循边界取值法，再随机取一个值测试。同时关注1、2、4口的吞吐量是否是倍数关系。(2)时延：此项测试是在吞吐量的范围内进行的，选取吞吐量的20%、40%、60%、80%分别进行测试[2]。测试的前提是无丢包，如果发现由于某些外界因素而造成的丢包需要重新测试,这样才能保证测试数据的有效性。

3.2.4 异常测试用例

此部分是对G.SHDSL接口卡在压力下的稳定性测试，设计用例如下：(1)承载大流量的情况下长时间(72 h以上)反复配置/删除配置操作，可以借助自动化脚本，随时抽取检测链路流量是否正常流通，且设备是否存在内存泄漏等;(2)承载大流量的情况下长时间(72 h以上)对接口卡反复执行激活/去激活，包括shutdown/undo shutdown和active/deactive操作;(3)长时间(72 h以上)超出吞吐量范围打流，测试仪上设置多条不同流量(包括不同包长、不同协议流量、分片报文等)，观察设备是否出现内存泄漏、重启[2]。

4 测试执行及有效性分析

4.1 用例执行

(1) 接口卡遍历。对以上用例的执行需要在1、2、4口接口卡上分别执行，相对来说工作量较大，因此对于PVC值的选取或是PPPoE最大用户的测量可以借助简单的自动化脚本实现。但需要DSLAM端配合的用例则只能手动执行。

(2) 测试参数选取。由于接口卡重启需要大约30~40 s的时间，对执行shutdown/undo shutdown和active/deactive操作时要考虑进去。

(3) 注意事项。某些缺陷的暴露是在设备长期运行情况下产生的，因此对其性能及压力稳定性的测试需要长时间观察。对设备接口可以交替变化使用，如GE、FE、5FE等，对上面的测试组网可以灵活变换。对每次测试的组网及条件需要明确，这对缺陷的分析及问题复现有很大帮助。

4.2 缺陷提交及测试有效性分析

(1) 缺陷发现的统计

根据测试过程中发现的缺陷按照提示、一般、严重和致命的级别提交的问题单统计如图2所示。

图2是软件产品整个测试过程中问题单个数的统计值，因G.SHDSL是新研发出来的接口卡，所以出现的致命、严重问题单个数较多。图3是软件交付的问题统计。

这里按照缺陷的级别及数目可以计算出特性问题单的DI值：

DI值=问题单数目×每个问题单的权值

其中提示、一般、严重和致命问题的权值分别是0.1、1、4、10。由此可以计算出图2中的DI值=564.1，图3中的DI值=19.2。

由上面计算出的DI值可以看出，以上的测试方法对软件产品质量的改进提供了一定的保障。

(2) 测试有效性分析

用例的设计遍历到特性的功能、互操作性、性能、压力、稳定性的测试范围，且实验室模拟现网环境执行用例。由Bug提交的DI值可以看出，以上用例的执行覆盖了大部分功能及场景，对开发人员修改代码提供了依据，通过不断修改代码、反复测试的过程保证了产品的质量。

本文提出了对多PVC的G.SHDSL接口卡测试的具体方法, 由实验结果可以看出,这些用例的设计确实对G.SHDSL接口卡缺陷的发现提供了保障。当然并不可能发现全部的问题，测试是一个很灵活的过程，需要测试人员不断测试、分析等逐步地改进测试方法，这是一个反复操作、不断循环、逐步提高的过程，以达到产品质量的提高。