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手机功率放大器的功率包络跟踪

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作者:时间:2013-09-27来源:电子产品世界收藏

  2. 结果

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/170431.htm

  在 LabVIEW系统设计软件和ANSI C中均附有用于同步波形并可让用户能够实现一个波形相对另一个波形的皮秒级分辨率延迟的范例代码。项目范例位于本文结尾处。 图9 显示的是使用 PXIe-5154 1 GHz数字化仪进行数据采样的LabVIEW采样代码的典型结果。 在本范例中,基带包络信号仅为经换算的LTE波形幅度。 从图中我们可以看出基带包络与波形是一致的。

  图10显示的是LabVIEW ET演示操作的前面板界面。 除了一些标准的硬件资源控件外,还有其他一些参数也值得说明一下。 首先是波形IQ率。 本操作演示中,假定和包络波形均以相同的速率采样,速率可以是任意值。 之前我们讨论的,如果要以任意量延迟包络和波形,两个波形均要以200 MHz的频率重新采样。第二个重要参量是是AWG相对VSG的延迟控件。 控件实际上用于控制包络相对于RF波形的延迟,可通过输入负值来控制RF波形相对于包络的延迟。

  从图9的RF和包络波形中,我们很难确定精度为纳秒级的波形延迟是否与预期一致。 图10中的波形图显示的是一个RF和包络波形范例导出的数字化标记事件。 使用标尺,可以看到,RF波形相对于包络延迟了7 ns,这主要是由于 PXIe-5611上变频器的路径延迟和电缆长度差异。 如果要使两个波形完全重叠,则 AWG相对于VSG控件应设置为7 ns,如图11所示。

  使用传统的直流电源会消耗大量的电能,这使得对于LTE功率而言,ET性能就变得至关重要。 虽然该技术有望显着提高PA效率,但是修改现有测试和特性记述设置来适应ET是一件非常困难且成本不菲的挑战。 借助NI平台和本文提供的采样代码,您可以对现有NI PXI功率测试站进行改进,以支持ET,且所花费的成本和时间远低于传统台式设备所要求的。

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