TC-08温度记录仪在光学薄膜激光量热吸收测试的应用

　　1) 配置TC-08和Ti32。通过免费的配置软件Picolog recorder配置TC-08温度记录仪，按照测试的需求设置数据记录的模式，间隔，时长，通道和报警等，直接通过红外热像仪的操作面板按键对测试的事项配置Ti32;

　　2) 粘贴3条贴片式热电偶线到镜片背面;

　　3) 安装各个仪器，打开大功率激光器，对准光学薄膜;

　　4) 开始记录温度数据。开启TC-08和Ti32的记录功能，开始进行温度采集，显示和存储，过了一段时间后，关闭大功率激光器，继续记录光学薄膜自然冷却至室温的温度变化;

　　5) 导出数据，得到热吸收情况。将两款温度记录仪的数据导出到电脑上对比验证，并进行数据分析，通过热力学理论求得光学薄膜对激光量的热吸收情况。

　　4 结果分析

　　TC-08完成了温度数据采集之后，可以直接在Picolog Recorder软件上将记录的数据导出格式为图片、excel或者txt格式的数据。如下图所示，图4为TC-08测试的温度曲线，图5为TC-08测试的温度数据。

　　对比TC-08和Ti32测试的数据，两者数据总体趋势一致，因为TC-08的测试精度(±0.5℃)相比Ti32的测试精度(±2℃)要高，且镜片的面积较大，TC-08不仅仅测试了一个温度点，而是同时测量3至5个点，求各个点的平均值，这样得到的温度数据更接近真实值，所以采取TC-08测试的数据作为后期的分析数据。通过热力学原理得到光学薄膜对激光量的热吸收情况，从而能够判断光学薄膜的性能。

　　5 结论

　　试验表明，利用TC-08测试记录的温度曲线跟预期的理想温度测试曲线十分相近，测量精度高，试验成功。光学薄膜是所有光学系统中不可缺少的基本元件，往往也是最薄弱的环节之一，尤其在强激光系统中，光学薄膜即使出现十分微小的瑕疵，也会导致输出光束质量下降。应用于强激光系统的光学薄膜，则更强调它的抗激光强度，围绕提高这类薄膜的抗激光强度所开展的工作，使这类薄膜的研究更加深入。热吸收是光学薄膜的一项重要性能指标，精度测量光学薄膜对激光量热吸收可以大大优化激光光学器件。