某光电跟踪仪锁定机构检测调试仪的研制
2 检测调试仪设计
2．1 硬件设计
如图2所示，单片机通过读取外来信号D0—D5，程序内部判断后对锁定机构进行加锁或解锁控制，控制信号通过SN54LS245驱动后，控制图3中继电器的吸合来控制电机工作。没有加解锁控制信号或到位信号输入时，继电器K1、K2、K3、K4都处于3、4和9、10导通状态；当信号控制时，继电器K1、K2、K3、K4处于4、5和8、9导通状态。本文引用地址：http://www.eepw.com.cn/article/162116.htm
下面以加锁为例来说明调试仪的工作过程。
当信号D0-D5为10000时，单片机通过P10口对方位锁定机构发出加锁命令，控制命令经SN54LS245驱动后作用于R9和VQ1，VQ1导通后，继电器K2的4、5导通，输出+28 VLOCK信号控制电机进行加锁。完全锁定后，光电开关输出(上)信号输出高电平即图3中STOP+，STOP+通过上拉电阻R16作用于R10和VQ2，VQ2导通后，继电器K3的4、5和8、9导通，+28 V LOCK信号切断，硬件上先停止加锁控制，防止造成机构硬件损伤。而K3的8、9导通后，FWH+输出+5 V电平给单片机，单片机接收信号后，终止加锁命令，VQ1截止，K3恢复常态。解锁过程和加锁过程类似，在此不作赘述。
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