关 闭

新闻中心

EEPW首页 > 工控自动化 > 设计应用 > MEMS/NEMS表面3-D轮廓测量中基于模板的相位解包裹算法

MEMS/NEMS表面3-D轮廓测量中基于模板的相位解包裹算法

作者:时间:2011-12-05来源:网络收藏

2.2.2 实验结果
图6为图2所示的圆形薄膜部分的一幅干涉图像(左)和由五幅干涉图像合成的亮场图像(右).使用MATLAB中的edge函数,可以很方便地得到使用不同边缘检测得到的边缘提取结果,如图7(阈值均为缺省设置).

7.JPG
图6 圆形膜部分的干涉图及亮场图像

8.JPG
图7 使用不同得到的边缘检测结果
从上图结果可以看出,只有使用Canny算子的结果得到了非理想数据区完整闭合的边缘.图8是对Canny的阈值进行改变得到的结果.可见,当阈值设定为(0.3,0.6)时可得到所需剔除区域的完整边缘.将相应的标记有非相容点边缘的代入到生长法程序中,得到解结果如图9.

9.JPG
图8 更改Canny算法的阈值得到的结果

10.JPG
图9 使用边缘检测法获取得到的展开结果
使用边缘检测来获取的方法使用方便,并且可以根据具体应用选择合适的阈值来进行灵活控制,比较适合应用于具有孔洞等非相容区域的被测运算中.然而,由于干涉中噪声的影响,合成的亮场图像本身已含有误差,应用于大范围的比较复杂的时这种方法则较难在控制噪声和精确定位边缘之间找到平衡.

2.3 干涉图灰度差值提取法
2.3.1 方 法
这种方法在原始干涉图的基础上得到相位解包裹的模板.在五步相移干涉中,驱动电路驱动压电陶瓷使得参考镜步进移动从而产生步进相移,由此得到时间序列上的五幅干涉图像.参考光路的微小变化使得光程差发生相应变化,致使各幅干涉图上被测的条纹产生相对位移.而由于非数据区没有条纹,或者非相容区域的条纹信息不够理想,所以可以根据各幅干涉图中对应像素点灰度的差值来判断哪些是相容区域,从而将非相容区域提取出来,得到相位解包裹的模板.具体实施的方式为:先将各幅干涉图对应像素的灰度两两相减,得到它们之间的灰度差值,然后设定一个合适的阈值,当所有的灰度差值都小于这个阈值时,此像素点即被判定为没有发生干涉条纹相对变化的非相容点.

2.3.2 实验结果
如果想要对如图10干涉图所示的圆形薄膜进行全视场范围的解包裹运算,由于其较为复杂,并包含有相当部分的非数据区和非理想数据区,所以使用干涉图灰度差值提取的方法来获得模板.设定合适的阈值得到的模板结果如图11,图中白色区域为较为理想的条纹区域,黑色区域为解包裹运算中需要绕过的区域.图12是将图11所示的模板以及包裹图像代入

11.JPG
图10 圆形膜五幅干涉图中的一幅(1024x1528像素)

12.JPG
图11 干涉图灰度差值提取法获得的解包裹模板图

13.JPG
图12 使用干涉图灰度差提取法获取模板得到的相位展开结果

生长算法得到的相位解包裹后并以圆形膜四周的基底区域作为基准面调平后的圆形膜表面图像.可以看出,使用干涉图灰度差值提取法获得模板并使用生长算法在全视场范围内进行相位展开获得干涉图灰度差值提取法的计算相对较为复杂,但是由于它在最原始的干涉图像信息上进行判断,所以成功率高,也可以通过改变阈值灵活地控制模板的灵敏度,并且使用范围很广,对于复杂、沟槽、噪声等提取都适用.
3 结 语
具体应用实例的实验数据证明,模板的广度优先搜索相位解包裹方法可以根据不同应用的需要标记模板,从而绕过非相容区域准确地实现相位展开.如果有必要,可以根据被绕过区域周围像素点的灰度信息,使用滤波、插值等方法回添这些点的展开相位数据.此方法能够克服普通相位展开方法的局限性,并因其简便、灵活、准确的特点而能被广泛应用于EMS/NEMS结构较为复杂的轮廓表面的相位展开.其不足在于不能应用于非连续表面轮廓的测量.


致谢
感谢北京大学微米纳米加工技术国家重点实验室的陈兢副教授和王莎莎同学等,他们为本文的研究工作提供了部分测试结构.


参考文献:
[1] Denhoff M W. A Measurement of Young’s Modulus and Re-sidual Stress in MEMS Bridges Using a Surface Profiler[J].Journal of Micromechanics and Microengineering, 2003, 13:686-692.
[2] Lafontan X, Pressecq F, Beaudoin F, et al. The Advent ofMEMS in Space[J]. Microelectronics Reliability, 2003, 43:1061-1083.
[3] Jensen B D, de Boer M P, Masters N D, et al. Interferometryof Actuated Microcantilevers to Determine Material Propertiesand Test Structure Nonidealities in MEMS[J]. Journal of Mi-croelectromechanical Systems, 2001, 10(3): 336-346.

[4] Conor O’Mahony, Martin Hill, Magali Brunet et al,“Charac-terization of Micromechanical Structures Using White-Light Interferometry[J]”, Measurement Science and Technology,2003,14: 1807?1814.

[5] Hu Xiaodong, Hu Chunguang, Guo Tong, et al. Characteri-zing the Behaviour of Micro ElectroMechanical Structures by Optical Interferometry[C] // International Workshop on Mi-crofactories. Shanghai: 2004: 492-497.
[6] 胡春光.利用相移显微干涉术和频闪成像技术研究MEMS离面运动[J].天津:天津大学,精密仪器与光电子工程学院,2004.
[7] Dennis C. Ghiglia and Mark D. Pritt, Two-Dimensional PhaseUnwrapping: Theory, Algorithms and Software[M], John Wiley Sons, Inc., New York 1998: 1-58.
[8] 惠梅,表面微观形貌测量中相移干涉术的算法与实验研究
[D],博士学位论文,中国科学院西安光学精密机械研究所,2001年.
[9] Hemmert W, Mermelstein M S and Freeman D M. Nanometer Resolution of Three-Dimensional Motions Using Video Inter-ference Microscopy[C]//Twelfth IEEE International Confer-ence on Micro Electro Mechanical Systems. 1999: 302-308.
[10] 李弼程,彭天强,彭 波等.智能图像处理技术[M],电子工业出版社,2004:149-160.
[11] 薛军平,何继善.人体信息三维可视化的医学图像边缘检测算法研究[J].生物医学工程研究. 2004, 23(1): 7-10.


接地电阻相关文章:接地电阻测试方法



上一页 1 2 下一页

评论


相关推荐

技术专区

关闭