LKT4200加密芯片的安全性分析
1、侵入式攻击
开封
蚀刻
显微镜
逆向工程
机械探测
聚焦离子束
2、半侵入性攻击
·单一故障攻击(SFI)
·静态/差分故障分析(SFA / DFA)
正常工作范围以外的
·复位
· 时钟
· 供电电压
·温度
·光扰动攻击
·灯闪烁
· 干扰攻击
·电场和磁场感应
·辐射攻击
3、本地的非侵入性攻击
- 简单的功率分析
- 时序和波形攻击
- 接触片上的电源走线(VCC，RST，I / O)
- 电源由于电磁辐射的痕迹
- 差分功耗分析
- 多次测量
- 代码的逆向工程
- 攻击键
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