整合高性能仪器和FPGA 实现最佳WLAN测量
工程师可以通过两个同步的发生器或分析仪生成并采集80+80信号。如图14所示，如果两段属于不同波段，将在每段中应用常规80 MHz频谱屏蔽，但当两段属于同一波段并且为连续时，将在信号中应用叠加的频谱屏蔽。
本文引用地址：http://www.eepw.com.cn/article/146887.htm
11. 测量速度
所有测试工程师都面临缩减测试时间的挑战。在特定环境中，工程师需要保证新产品的稳定测试流程。在生成环境中，测试工程师需要以最快时间测试尽可能多的参数。
PXI平台可为仪器以及使用的处理器提供模块化方法，测试工程师提高测试速度的最简便方法就是使用最新最快的处理器。在传统箱式仪器中尝试升级处理器将会十分困难。工程师们很大程度上依赖于仪器制造商来提供最新的处理器。通过PXI系统，工程师自己即可购买高性能计算机来执行所有处理计算。
NI射频仪器已在主控计算机中实现所有调制/解调以及处理计算，该主控计算机可以嵌入PXI机箱或者使用由PXI系统控制的外部计算机。
图15显示了在802.11ac中使用不同平均数执行EVM和频谱屏蔽测试所需的测试时间。
12. 总结
NI PXIe-5644R的速度、性能、体积和灵活性使其成为WLAN测试的理想仪器。通过开放式架构，用户可以对仪器进行FPGA级别的各种自定义，从而实现复杂的触发解决方案，工程师甚至可以在仪器中实现通道仿真。
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