安捷伦参加首届国际无线会议及展览

　　日前，首届国际无线会议(IWS)及展览(IEEE MTT-S IWS)在京举行。作为全球最大的测试测量公司，安捷伦科技(NYSE：A)是本次会议的白金赞助商。以“引领射频微波测试”为会议主题，安捷伦电子测量事业部首席科学家、国际微波元器件测试技术的领军人Joel Dunsmore 先生、以及来自全球的资深测试专家参加了本次活动，他们与中国业内专家一起，共同探讨国防电子、微波和通信领域的众多前沿课题。　　

安捷伦副总裁元件测试集团总经理Greg Peters与IWS主席及MTT-S前主席合影留念

　　与此同时，为与用户更为深入的分享安捷伦的产品及领先技术，安捷伦还通过展示长廊、有源微波器件进阶测试技术讲座、国防电子和微波测试测量研讨会、工业论坛等多样的方式，为中国客户和业内专家介绍了安捷伦全球领先的射频微波测试方案：

　　主题演讲

　　安捷伦公司副总裁元件测试集团总经理 Greg Peters 先生在闭幕典礼上作了题为“微波技术：光明的未来”的主题演讲。回顾了微波射频领域的发展，并展望了未来推动微波技术进步的新的市场需求。

　　安捷伦展示长廊

　　安捷伦与Cascade、DecenTest、Electro Rent、Matrix、Maury等国内外合作伙伴深入合作，共同打造了具有超强人气的“展示长廊”展览区域，内容包括太赫兹(750GHz网络仪)、复杂雷达和电子战解决方案、噪声系数测试、晶圆片上(on-wafer)器件测试、北斗/GPS/GNSS 卫星导航等超过12个主题鲜明的展台。

　　有源微波器件进阶测试技术讲座

　　为帮助国内专业人士深入了解微波器件特别是放大器、变频器等有源器件的测试技术，安捷伦元件测试集团首席科学家、国际微波元器件测试领域的领军人Joel Dunsmore先生结合现场实物测试演示，通过连续4个小时的技术讲座，深入剖析了有源微波器件测试技术。　　

安捷伦专家Joel Dunsmore技术讲座

　　国防电子和微波测试测量研讨会与工业论坛

　　鉴于中国工业、航空航天与国防电子技术的迅速发展，以及射频微波技术在工业、国防电子领域的重要应用。安捷伦在本次国际无线会议期间举办了“国防电子和微波测试测量研讨会”，并积极参与主办方提供的“工业论坛”平台。安捷伦与中国用户一起分享当前工业界与国防电子的最新发展趋势，及安捷伦领先的测试测量应用方案，涉及专题内容包括天线相控阵相参测试、雷达和T/R组件测试、北斗/GPS/GNSS 卫星导航测试、瞬态信号的捕获概率等共计超过20个全球领先的测试测量方案。

　　作为国际微波行业最负盛名、最具权威性和影响力的会议，本次由IEEE微波理论与技术协会主办的国际无线会议(IWS)及展览是首次来到中国。其参照IEEE微波理论与技术协会(MTT-S)著名的国际微波年会(IMS)会议模式，集技术研讨会和展览于一体，为广大用户及业内专家搭建了一个展示、沟通、交流的平台。