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SoC中放大器和ADC的校准

作者:GaneshRaaja,PushekMadaan时间:2012-10-09来源:电子产品世界收藏

  相关双采样

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/137420.htm

  相关双采样 () 可用于动态补偿偏移误差。以下给出了实施的方法:

  1. 连接放大器输入到接地。
  2. 测量输出。测量的任何非零值都是由于系统偏移误差而造成的。
  3. 在Offset变量中存储该值。
  4. 连接放大器输入到信号。
  5. 测量输出。
  6. 减去第 2 步中测量到的Offset值,这就得到偏移补偿后的结果。
  7. 每次测量都重复第 1 步到第 6 步。

  由于每次测量都涉及偏移测量,因此温度造成的偏移电压的任何漂移均可以自动得到补偿。  

 

  该系统的不足在于,由于每个周期都要进行两次测量,因此ADC吞吐量会减少 2 倍。如果不希望降低吞吐量,那么我们可以减少测量偏移电压的频率,也就是不必每个测量周期都测量一次偏移,可以每16个或32个测量周期进行一次测量。

  外部电压参考的增益校准

  我们可用温度系数极低的高精度外部参考电压来补偿增益误差。  

 

  以下给出了使用外部参考实施增益补偿的步骤:

  1. 连接已知的参考电压,比如说带1.225V参考电压的AD1580B,温度漂移为50 ppm/°C,连接到放大器输入。
  2. 测量ADC计数。
  3. 用已知参考电压和ADC计数来计算增益。
  4. 连接信号到放大器输入。
  5. 测量ADC计数。
  6. 计算ADC计数的输入信号和第 3 步中计算的增益。

  现在,将用于偏移补偿的以及用于增益补偿的外部参考法相结合,我们就能构建全自动化的系统了。图6显示了这种系统的实施方案。  

   该方法可提供一个全自动的高精度无误差系统,其不足之处在于因为外部高精度电压参考而提高了成本。



关键词: ADC SoC CDS

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