新闻中心

EEPW首页 > 测试测量 > 设计应用 > 开发针对ECU测试的硬件在环、高速仿真与数据采集系统

开发针对ECU测试的硬件在环、高速仿真与数据采集系统

作者:Thomas J. Mangliers,Edward Frank时间:2012-06-07来源:电子产品世界收藏

  使用 PXI平台进行高速数据采集

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/133311.htm

  National Instruments产品是我们系统的核心。为我们的DAS系统提供所有的I/O,包括复杂信号产生、高速采集和车辆总线仿真和监测。我们使用独自开发了DAS和日志文件工具,我们的系统完全依赖于产品的速度和精度。我们无法为我们的应用使用标准的采集卡,这是由于信号需要精确的定时。我们改为选择使用NI R系列智能现场可编程门阵列(FPGA)DAQ模块,来提供具有复杂定时的波形和仿真的传感器输出。NI PXI-7831R和PXI-7833R R系列智能DAQ模块也使得我们能以更高的采样率采集以及实时的输出信号。

  DAS数据处理是我们所面临的另一个问题。我们的解决方案是,使用中固有的并行处理机制开发一个日志文件工具,并使用一个多核的应用程序,充分利用主机的全部运算能力来处理我们的数据。

  使用National Instruments平台的优势

  该DAS系统在正常的实验室环境下而不用在专门的整车实验室里,就可以使用现成的工具进行测试,大大减少了我们客户的成本。因为该DAS可以监测和控制所有的信号,所以我们一次就完成了测试,而之前客户的旧采集系统因为可用通道数有限,需要多次测试。现在用户可以在短短三个星期里完成测试流程,而采用旧的采集系统则需要三个月。  


DGE高速DAS与DGE负载箱相连,用户的ECU定时信号显示实例  

由于系统以如此高的速率进行监测,所以记录每一次读取会产生大量的数据。

上一页 1 2 下一页

关键词: NI LabVIEW ECU

评论


相关推荐

技术专区

关闭