新闻中心

EEPW首页 > 元件/连接器 > 业界动态 > Mutitest Quad Tech针对最佳接触完整性而设计

Mutitest Quad Tech针对最佳接触完整性而设计

作者:时间:2011-11-04来源:电子产品世界收藏

        德国,2011年10月---面向世界各地的集成制造商(IDM)和最终测试分包商,设计和制造最终测试分选机、测试座和负载板的领先厂商Multitest公司,日前宣布其概念正是下一代的垂直接触技术。因其卓越测试良品率和超长探针寿命,从而具有显著测试成本优势。

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/125497.htm

        采用非套筒结构,拥有四个内部接触点。该设计实现了出色电气和机械性能。具有高电流功能、高带宽和低电感等特点。从机械性能方面看,Quad Tech的长形变行程可适应更大的Z轴高度公差。

        Quad Tech的设计使Multitest可使用独特且极为精确的生产工艺,该生产工艺亦能实现非凡镀层质量。该工艺针对基于Quad Tech 的所有测试座,可确保长探针寿命、长清洗周期和令人满意的探针替换成本。

        目前,Multitest可供应基于Quad Tech 技术的Mercury、Gemini和Gemini Kelvin测试座。

Quad Tech由 Multitest测试座部门倾力推出。明尼苏达州St. Paul中心潜心致力于研发接触解决方案。



评论


相关推荐

技术专区

关闭