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高精度多通道相参信号源系统测量与校准技术

作者:安捷伦科技软件有限公司 文竹 孔红伟时间:2011-02-23来源:电子产品世界收藏

  安捷伦多通道相参信号源系统测量与校准结果

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/117163.htm

  基于上述解决方案,我们对一个实际的双通道相参信号源系统进行了相参测量与校准。该相参系统的参数如表1。

  经过相参测量与校准后,分别设置两通道相参信号的相位差为0°和180°,实际测得两通道相参信号的相位差随时间变化曲线如图5。

  利用DSA91304A观察经过相参校准后的相参信号,如图6所示。同时,利用示波器的相位测量功能可以验证相参信号的测量和校准精度(图(b)、(c)中红框所示)。

  由测量结果可知,经过校准后的相参系统的相参相位精度(均值与方差)均在0.6°以内。因此,该多通道相参信号源系统测量与校准解决方案能够提供非常精确的相参测量和校准精度。

  结论

  本文研究了多通道相参信号源系统的相参测试与校准技术,分析了相参系统中影响相参相位精度的主要因素,并重点研究了多通道相参信号源系统中由路径延时误差产生的相参误差的测量和校准技术。同时介绍了安捷伦的多通道相参信号源系统以及基于相关处理技术的相参误差测量和校准解决方案。通过对实际相参信号源系统的测量与校准,证明了本文提出的相参误差测量和校准技术以及解决方案能够保证多通道相参信号源系统具有精确、稳定的相参性能。

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关键词: Agilent E8267D

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