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基于PXI和LabVIEW的FCT(Functional Circuit Test)测试系统

作者:时间:2010-05-10来源:电子产品世界收藏

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/108829.htm

  图5 (软件控制主界面)

  图 6 (主程序框图)

  结论

  通过公司先进的技术,能够准确而快速地对硬件进行控制和数据采集;同时驱动库DAQmx与软件开发平台的无缝连接,利用构建的FCT功能测试台, 虽然结构复杂,信号量较多,但是结构调理,功能强大,易于修改,同时实现了资源共享,经过大量的实验,测试,我们非常成功的运用多台这样的FCT功能测试台到了工厂的产线中,并且稳定可靠。每次新产品释放的时候,研发工程师只需要添加一个治具,根据资源分配表压针,连线,修改软件即可;大大减少了测试工程师的工作负荷。相信的产品在该行业会有更加深入的应用。


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关键词: NI LabVIEW PXI

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