新闻中心

EEPW首页 > 测试测量 > 新品快递 > 泰克展示最新的高速串行测试解决方案

泰克展示最新的高速串行测试解决方案

作者:时间:2010-02-10来源:电子产品世界收藏

  全球示波器市场的领导厂商-- 公司日前宣布,在2010年1月29日-30日举行的富士康仪器设备展和研讨会上展示了最新的解决方案。此次展览在富士康深圳工业园区举办,并同期开设了热门解决方案专题讲座。有将近一千位富士康的各级员工参加了这次活动。

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/106056.htm

  作为参展商之一,此次共展示了其为USB3.0、HDMI1.4/DiiVA、DDR、PCIE/SATA、10GBT Ethernet、TDR/IConnect等高速技术、视频技术所提供的领先解决方案,以及包括最新推出的系列高性能混合信号示波器等产品,并给予了现场技术咨询和解答。针对2010年热门的HDMI1.4、USB3.0两大高速技术,工程师还专门作了精彩的主题演讲,并现场演示解决方案,获得热烈反响。

  泰克在高速测量和分析中具有业内领先的技术优势。设计工程师们能够利用泰克在标准组织机构中发挥的作用以及泰克公司最新的测试解决方案,缩短串行数据设计周期,进而加快产品开发速度,降低整体产品开发成本。泰克USB3.0解决方案已为NEC电子采用,为其符合USB 3.0标准的主机提供信号质量监测,该主机是世界首款获得USB设计者论坛USB 3.0认证的产品。此外,松下授权测试中心也已选择泰克HDMI1.4一致性测试解决方案(包括拥有直接合成技术的AWG7122B),以保证采用HDMI标准的出货产品满足规范。



评论


相关推荐

技术专区

关闭