USB 3.0线缆和连接器的阻抗和插损测试

　　式2 用来将图2中测到的插损 转换到90欧姆差分阻抗。图3中的两个曲线给出了100欧姆和90欧姆特征阻抗的的回波损耗。

　　Figure 3: Return loss measured with 100 ohm reference (dotted line) and 90 ohm (solid line) reference

　　图3：100 欧姆(虚线)和90欧姆参考(实线)的回波损耗

　　USB 3.0 线缆和连接器的差分阻抗可以使用校正的TDR系统测量插损而得出。通过对连接到待测器件的参考平面(基线校正)运行开路，短路，负载进行校正。通过简单的转换测试系统和待测器件之间的不同阻抗进行插损补偿。

　　References

　　参考：

　　[1] “Time Domain Spectrum Analyzer and "S" Parameter Vector Network Analyzer”, James R. Andrews, Picosecond Pulse Labs application note AN-16a, November 2004

　　[2] “converting s-parameters from 50-ohm to 75-ohm Impedance”, Dallas Semiconductor/Maxxim application note November 21, 2003